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大连日本Kett便携式膜厚仪
大连日本Kett便携式膜厚仪LE-200J，该仪器采用了磁性和涡流两种测厚方法，可无损的测量磁性金属基体（如铁、合金和硬磁性钢等）上非磁性覆层的厚度（如铜、铝、铬、珐琅、橡胶、油漆等）及非磁性金属基体（如铜、铝、锌、锡等）上的非导电覆层的厚度（如珐琅、橡胶、油漆、塑料等）。
大连日本Kett便携式膜厚仪LE-200J客户案例
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大连日本Kett便携式膜厚仪LE-200J规格参数
测定方法 | 电磁式 |
测定对象 | 磁性金属上非磁性涂镀层 |
测定范围 | 0～1500um或0～60.0mils |
测定精度 | <15um±0.3um >15um±2% |
分辨率 | <100um 0.1um >100um 1um |
界限设定 | 可设定上/下限数值 |
测试单位 | 公/英制互换 |
显示方式 | LCD数显 |
操作面板 | 密封防水按键 |
附属品 | 铁基体/校正标准片/电池/皮套/说明书 |
电源 | DV3V 主机5#碱性电池×6个 打印机5#碱性电池×4个 |
体积 | 80(W)×80(D)×30(H) |
重量 | 1100g |
联系人：李经理
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